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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)探針臺(tái)
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高溫真空探針臺(tái)KT-Z1604TZ，可單選高溫或低溫等相應(yīng)組件，溫度可達(dá)到400℃。以便測(cè)量分析溫度變化時(shí)芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測(cè)芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來(lái)的測(cè)試結(jié)果誤差。
更新時(shí)間：2024-03-29
產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z1604TZ
瀏覽量：1542
真空手動(dòng)探針臺(tái)變溫射頻探針熱臺(tái)該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機(jī)械泵可達(dá)＜5Pa分子泵可達(dá)＜-3Pa。真空信號(hào)連接處使用高級(jí)真空電極信號(hào)接頭，保證氣密性及抗干擾性能。使用時(shí)將需將待檢測(cè)的器件方在加熱臺(tái)面，探針頂尖處由3軸可移動(dòng)探針手動(dòng)調(diào)節(jié)移動(dòng)至被測(cè)試器件的引腳處，外部信號(hào)線連接測(cè)試儀器來(lái)測(cè)試電學(xué)信號(hào)。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：2280
